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测量残余奥氏体的含量，对于热处理的控制是非常重要的，X射线衍射法（XRD）是可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法，残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。
残余奥氏体
钢的硬化过程是首先加热到奥氏体相，然后淬火到室温转变为硬质的马氏体相。奥氏体在高温钢中呈现面心立方结构（FCC），冷却时，钢体大部分转化为体心立方结构（BCC）的铁素体，或者转变为体心正方结构（BCT）的马氏体。根据冷却钢的速率，会有一部分钢仍为奥氏体（通常为0-40%），因此称为残余奥氏体。
奥氏体的结构比铁素体还有马氏体的结构都要大，如果在转变过程中有残余奥氏体存在，随着时间的延长，产品中的残余奥氏体会转变为其他相体，这些变化会导致产品的形状发生改变。此外，其他的物理性能，如硬度和强度，都会随着不同相体的转变而发生变化，这些变化最终会影响到产品的使用寿命。
X射线衍射法来测量残余奥氏体的百分比含量
X射线衍射法可以准确测定钢热处理后残余奥氏体的含量，能够为钢铁热处理过程控制提供可靠保证，提高产品质量。
X射线衍射法是目前为止测量钢体中残余奥氏体含量最准确的方法。根据ASTM E975-03的X射线测量钢中残余奥氏体近晶体随机取向的标准方法，ARE X这款仪器能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量。
由于奥氏体相结构与其他相的结构不同，在不同的测试点，奥氏体会产生于铁素体和马氏体不同的衍射峰值。钢中相的总数和与其衍射峰值的强度成正比。简单来说，残余奥氏体总的含量与奥氏体峰值的强度和其他相峰值强度比有关。我们利用X射线衍射仪采集四个衍射峰值来确定残余奥氏体的浓度，两个分别是铁素体和马氏体，两个是奥氏体。通过四个峰值强度的对比可以获得样品中残余奥氏体的百分比含量。
ARE X衍射仪可以测量奥氏体（220）（311）、铁素体（200）（211）的衍射峰值强度，并分别提供四个奥氏体/铁素体的峰值强度比。通过多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向的带来的影响，同时对检测到的碳化物干扰加以计算。
样品制备
标准的金相湿研磨和抛光方法，表面抛光： 由碳化硅或氧化铝砂纸 600 到 80 目；
表面研磨： 6 到 0.2 μ m 的金刚石或氧化铝瓷。
ARE X衍射仪技术参数
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X射线发生器
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输出功率
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3KW
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输出稳定性
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<0.01% (电源供给10%的波动）
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输出电压
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60KV
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输出电流
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60mA
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电压步宽
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0.1KV
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电流步宽
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0.1mA
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波动
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0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz
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预热与电路
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自动预热和斜坡控制电路
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输入电压
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230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 单相
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X射线光管
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光管类型
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玻璃（可选陶瓷），Mo靶材，细焦斑（可根据要求选其他型号）
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焦斑尺寸
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0.4 x 8 mm FF (可选0.4 x 12 mm LFF;
1 x 10 mm NF)
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准直
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单毛细管准直器:直径1 - 2毫米
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输出电压
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3KV
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测角仪
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配置
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垂直测角仪
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扫描角范围
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27° < 2θ< 40°
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角准确度
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± 0.001°
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样品台
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尺寸
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110 mm x 150 mm
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探测器
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类型
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高分辨率，带直接耦合（微米）光纤输入的X射线数码摄像仪和带制冷CCD
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机体
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尺寸
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658 mm X1059 mm X762 mm
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X射线泄露量
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< 1 mSv/年 （按照国际准则充分安全屏蔽）
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处理单元
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计算机类型
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个人计算机
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控制对象
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X射线发生器、探测器和数据库
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基本数据处理
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建立校准曲线，残余奥氏体计算
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仪器特性
符合国际标准：ASTM E975-03
使用精密的自动反馈控制电路获得极高的X射线发生器稳定性。
自动调整高电压与电流输出脉动值。
大功率、优质的玻璃（陶瓷）X 射线管，电压可至60KV。
高聚焦单毛细管准直器。
2θ角度范围：27 to 40°。
样品台尺寸：110 mm x 150 mm。
高分辨率CCD探测器。
采集时间：小于5分钟。
双安全防辐射电路模块。
自带校准。
安装要求
电气系统
输入电源：230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 单相
输入电流：40A
主保险丝：32A
功率消耗：5KVA
接地端子：6 mm2
电压波动范围：<10%
冷却水
流速：4L/min
压强：6帕
入口温度：35℃（根据霜点）
如果流速低于4L/min，保护X射线管的安全电路就会被激活，停止X射线的发射电路工作，如果流速无法满足，可以额外添加水冷却装置。
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